ケツト電磁膜厚計LE-200J

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ケツト電磁膜厚計LE-200J

ケツト電磁膜厚計LE-200J

ポータブルタイプのプリンタ内蔵型膜厚計です。

磁性金属上に施されたメッキ(電解ニッケルメッキは除く)・塗装・ライニングなどの膜厚を、被膜に傷をつけることなくすばやく正確に測定。

さらに、測定結果をその場でプリントアウトできます。

*弊社は正規ルートです。安心のアフターサービス

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製品名 価格
商品コード K-LE-200J
ケツト電磁式膜厚計LE-200J
税別 375,000円
(税込 405,000円)

ケツト電磁膜厚計LE-200Jの特長

LE-200Jは磁性金属上に施された被膜厚を測定する電磁膜厚計

ボタン操作ひとつで平均値・標準偏差・ 最大値・最小値が求められる統計計算機能、素地の違いによ る誤差をなくすキャリブレーション・メモリ機能、膜厚の管 理範囲を指定するリミット設定機能などを装備しています。

測定結果は内蔵プリンタでプリントアウトできます。

●プリンタ内蔵の膜厚計

日付け、ロット番号、測定結果をその場でプリントアウトし、資料として提出することが可能です。

●膜厚管理に必要な統計計算機能

測定結果の平均値、標準偏差、最大値、最小値などを簡単な 操作で求めることができます。

●キャリブレーション・メモリ機能

素地の材質、形状、厚みの変化に対応するため、その素地に 最適な検量線を電磁方式4種をあらかじめ 登録し呼び出すことが可能です。

●リミット設定機能

管理対象膜厚の上限値、下限値を設定しておくことができます。

設定範囲外の膜厚を測定した場合、ブザーで警告し表示部に警告マークを表示します。

●小型プローブ

ペンシルタイプの一点接触定圧方式プローブで、測定場所を選ばず安定した測定値が得られます。

●耐摩耗性に優れたプローブチップ

測定プローブの先端チップに電磁方式はチタンコーティングを採用

●測定原理 電磁誘導式(LE-200JのFeプローブ)

交流電磁石を鉄(磁性金属)に接近させると、接近距離によって、コイルを貫く磁束数が変化し、そのためコイル両端にかかる電圧が 変化します。

この電圧変化を電流値から読み取り、膜厚に換算したのが電磁式膜厚計です。

ケツト電磁膜厚計LE-200Jの仕様

測定方式
電磁誘導式
測定対象 磁性金属上の非磁性被膜
測定範囲 0~1500μm
測定精度 15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm
適合規格 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能 測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号
プローブ 一点接触定圧式(LEP-J)
表示方法 デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
外部出力 RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps)
電源 AC100V(50/60Hz)または
電池1.5V(単3アルカリ)本体部×6、プリンタ部×4
寸法・質量 120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
付属品 標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V(単3アルカリ)、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション L字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」

(McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional、MultiPropはCEC社の商標です。)