高解像度 顕微鏡用解像度テストチャート HJ-RC

顕微鏡用スライド形式の解像度テストチャートは、世界最高の技術で製造。
解像度チャートを観察することで、透過光により顕微鏡の対物レンズの解像度を非常に簡単に分析できます。
59のラインパターンがあり、倍率に応じた適正な解像度テストが可能。
スライド形式で様々な顕微鏡に使用可。

1mmあたり7.5～3300本のラインペアを持つテストチャート および4 µm～0.25 µmのピンホール。

解像度テストターゲットは、すべて高精度な電子ビームリソグラフィーを用いて製造。

10×10mm²の基板は石英製で、非常に広い分光透過率（DUV-VIS-NIR）を有しています。

基板は、高い光学密度を持つクロム層が形成されています。

優れた寸法公差と構造体のエッジの真直性が確保されます。

解像度のテストターゲットは、標準サイズ75×25 mm²の堅牢なステンレス製サポートに組み込まれています。