測定器の総合商社 株式会社佐藤商事
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ズーム式マイクロスコープ

ハイビジョンマイクロスコープ HT-2210

USBズーム式マイクロスコープ HT-2210 (HDMI接続・2D計測ソフト) Jスコープ

HDMI接続/USB接続 ソニーSONY製200万画素CMOSセンサー ●倍率:24~190倍(24インチモニタ上)
●作動距離 100mmmなのでピンセット等を使用しながら作業可能●視野:21×12~2.5×1.5mm
●PCやHDMIモニター上で動画・静止画の観察、保存、再生が可能 ●microSDカード記録
●高機能測定ソフトウェア「JCAM」対応 ●同軸落射照明・偏光フィルタ(別売)


HDMIモニタ付きズーム式マイクロスコープ HT-2210M(USB接続・2D計測ソフト) Jスコープ

HDMI接続/USB接続 ソニーSONY製200万画素CMOSセンサー ●11.6インチHDMIモニター搭載
●倍率:12倍~95倍(付属モニター上)24倍~190倍(23.8インチモニター上)
●作動距離 100mmmなのでピンセット等を使用しながら作業可能●視野:21×12~2.5×1.5mm
●PCやHDMIモニター上で動画・静止画の観察、保存、再生が可能 ●microSDカード記録
●高機能測定ソフトウェア「JCAM」対応 ●同軸落射照明・偏光フィルタ(別売)


高画質ズーム式マイクロスコープ HT-1200DX (HDMI/USB/Wi-Fi) Jスコープ高画質ズーム式マイクロスコープ HT-1200DX (HDMI/USB/Wi-Fi) Jスコープ

Wi-Fi接続/HDMI接続/USB接続 ●高精細1200万画素ソニー製CMOSセンサー搭載
●独自のアルゴリズムで高速で深度合成、画像連結
●倍率:24倍~190倍(23.8インチモニター上) ●視野:21×12~2.5×1.5mm
●高機能画像計測ソフトウェア(PC向け)「JCAM PRO」/(iOS/Android 向け)「KoPa WiFi Lab」対応
●作動距離 100mmmなのでピンセット等を使用しながら作業可能 ●同軸落射照明・偏光フィルタ(別売)

画像連結ソフト付ズーム式マイクロスコープ

HDMI接続/USBズーム式マイクロスコープ HT-1000 画像連結ソフト付 Jスコープ

HDMI接続/USB接続オートフォーカス :次々に対象物を変えても、その度に自動でピントが合います
●倍率:24倍~190倍(23.8インチモニタ上)●視野:21×12~2.5×1.5mm
●作動距離 100mmmなのでピンセット等を使用しながら作業可能
●200万画素CMOSセンサー●PC不要でHDMIモニタでマウスで各種操作
●同軸落射照明・偏光フィルタ(別売) ●PCやHDMIモニター上で動画・静止画の観察,保存,再生が可能
●SDカード記録 ●高機能画像処理ソフト付属:画像計測Excel出力、独自のアルゴリズムで高速で深度合成、画像連結


HDMIモニター付ズーム式マイクロスコープ HT-1000M(USB接続・画像連結ソフト) Jスコープ

HDMI接続/USB接続11.6インチ高精細HDMIディスプレイモニターつきマイクロスコープ
オートフォーカス :次々に対象物を変えても、その度に自動でピントが合います
●倍率:12倍~95倍(搭載モニター上)、24倍~190倍(23.8インチモニター上)
●作動距離 100mmmなのでピンセット等を使用しながら作業可能 ●視野:21×12~2.5×1.5mm
●同軸落射照明・偏光フィルタ(別売)
●200万画素CMOSセンサー ●PCやHDMIモニター上で動画・静止画の観察、保存、再生が可能●SDカード記録
●高機能画像処理ソフト付属:画像計測Excel出力、独自のアルゴリズムで高速で深度合成、画像連結


同軸落射照明とは

同軸落射照明とは、照明をレンズの方向から垂直にあてる方法です。
同軸落射照明は対象物を均一に照らすので、反射した光で綺麗に観察できます。
金属や表面が滑らかな樹脂、半導体ウェハなどの光を正反射する対象物は、斜めから照明を当てると反射光がレンズに入り込まず、光の量が足りなくなってしまうことも。同軸落射照明は、表面の光沢度合や組織の違いなどを観察したいケースに適した照明方法です。正反射の光をキャッチすることで高い制度の観察が可能。

偏光照明とは

偏向フィルターは方向性のある結晶から構成されており、一定の方向に振動する光だけを透過させる性質があります。このフィルターを活用して照明に偏りを加えるのが偏光照明です。

「光の指向性を向上させたい」「ある条件に適う光だけを通した」などの希望に合わせて、反射光を調整。
観察の精度をあげられる照明方法です。

用途は、透明なパッケージ・フィルムの印刷面や金属組織、セラミックの複合材、鉱物、皮膚の観察などに最適

特に、乱反射を引き起こしやすい対象物を観察する際にはよく用いられる方法です。

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