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フィッシャー ハンドヘルド型蛍光X線式測定器 X-RAY XAN®500

メーカーと協力して訪問デモ可能。リース契約もご利用いただけます。お気軽にご相談ください。

Fischerscope X-ray XAN500Fischerscope X-ray XAN500ハンドヘルドユニットとして使用卓上ユニットとして測定セット内容用途例

トップクラスの膜厚測定精度。多層メッキの各層のメッキ厚を正確・高精度に測定
ハンドヘルド型蛍光X線式膜厚測定および素材分析装置。
測定対象物を移動したりすることなく現場で素早く非破壊で検査することができます。

  • ■ ハンドヘルドユニットとメジャリングボックスのセット
  • ■ デバイス収納ケース付き
  • ■ 携帯可能な蛍光X線式の膜厚測定および素材分析測定装置
  • ■ シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度
  • ■ 測定対象物を移動したり切断することなく現場で素早く非破壊で検査
  • ■ 携帯可能な卓上ユニットとして小さな部品を高精度で測定したり、ハンドヘルドユニットとして大きな構造物の測定が可能

メーカーと協力して訪問デモ可能 現地校正可能

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主な用途

品質管理、受け入れ検査、工程管理を行う上で最適な装置です。小型部品や複雑な形状の測定にも適しています。

  • ■ 機械部品や筐体など大型部品の膜厚測定
  • ■ めっき工場の現場に携帯し測定
  • ■ 貴金属のハンドヘルド測定
  • ■ 電気めっき浴(溶液分析)の成分分析
用途例

特長

多層メッキの各層のメッキ厚もわずか5秒で高精度に測定

わずか5秒の測定時間で多層メッキの各層のメッキ厚を正確に測定することが可能。
非常に短い計測時間で測定可能なシリコンドリフト検出器(SDD)が搭載。

携帯可能な卓上ユニットとして測定

ハンドヘルドユニットを測定ボックスに取り付けることで携帯可能な卓上ユニットに早変わりします。移動に適しており、卓上ユニットとしても測定できます。
小さなサンプルの位置決めと測定が簡単に実施できます。

卓上ユニット

ハンドヘルドユニットとして測定

移動できない大きな物を測定する場合や、特殊な場所での測定には、卓上ユニットからハンドヘルドユニットを簡単に取り外して使用できます。膜厚測定や素材分析を高い精度でおこなえるように、本装置は測定対象物に対して適切に配置できる設計になっています。

ハンドヘルド型

簡単設置・高精度・長期安定性

携帯可能な卓上ユニットは小さなサンプルを確実に、簡単に設置できる設計になっており、信頼性の高い測定が行えます。
また、高精度で長期安定性がXAN500の大きな特長です。キャリブレーションの頻度が少なく済むため、時間と手間が削減できます。

安全性を重視した設計

被ばく防止の観点から、安全性を重視した設計になっており、どんな測定条件下でも安全な測定が行えます 。

実績のあるWinFTMソフトウェアを定量分析に使用

実績のあるWinFTMソフトウェアを定量分析に使用しているので、大型のFISCHERSCOPEのX線装置と同様の基本的機能をXAN500で利用できます。また、WinFTMソフトウェアで素材、および合金層を容易に分析できます。 この処理は、標準サンプルを使用せず、信頼性の高い基本パラメータ方式に基づいています。統計学的評価、報告書、ドキュメンテーション、エクスポート用測定データ作成などができる豊富な機能により、プロセス制御と品質保証の作業を容易にします。

測定例

Cr、Ni、Cu各層に対して、計測時間5秒間で同じ測定を5回繰り返した結果

XAN500は、様々な産業で使用される耐食コーティング、装飾コーティング、機能性皮膜などの測定が行えます。その範囲は、エレクトロニクス、自動車、航空宇宙、家電などです。主な用途の一例は、3層構造のクロムメッキのトリムストリップ(下表)です。わずか5秒の計測時間で、全ての層について非常に高精度な測定が得られます。

使用例1

測定結果
  Cr/µm Ni/µm Cu/µm
1 0.201 7.60 14.53
2 0.199 7.58 14.48
3 0.199 7.58 14.52
4 0.199 7.59 14.48
5 0.201 7.61 14.55
X. 0.200 7.59 14.51
S 0.001 0.01 0.03

ZnNi/Fe層の厚さとNi含有量を5秒間の測定時間で測定

もう一つの例は、亜鉛窒化物コーティングの測定です。この場合、コーティングのニッケル含有量もコーティング厚と共に重要です。下表は標準的コーティングでの測定結果を示しています。この例でも、測定の再現性は短い測定時間でも非常に良い結果が得られています。XAN500は、携帯式であっても従来のフィッシャーの高品質を損なうことなく、様々な膜厚測定と素材分析を実行できます。

使用例2

測定結果
  d/µm Ni/%
1 7.44 11.58
2 7.45 11.62
3 7.43 11.59
4 7.46 11.58
5 7.47 11.61
X. 7.45 11.6
S 0.01 0.02

仕様

一般仕様
使用目的 膜厚測定と素材分析のためのエネルギー分散型蛍光X線式測定器(EDXRF)
対象元素 硫黄S(16)からウラニウムU(92)、最大24元素を同時測定
デザイン ハンドヘルド型の蛍光X線式測定器
測定方向 ハンドヘルドユニット:自由な方向に可能
測定用ボックス使用時:下から上
X線源
X線チューブ Wターゲット
電圧、電流、電力 最大40kV、アノード電流 最大100µA、電力 通常:2W 最大:4W
コリメーター ⌀ 2mm
測定スポットサイズ ⌀ 3mm
X線検出器
X線検出器 電子冷却式シリコンドリフト検出器(SDD)
サンプル配置
サンプル位置決め 手動式
電源
電源 AC 115V~AC 230V 50 / 60Hz
充電式バッテリー リチウムイオンバッテリー 7.2V / 6.2Ah
満充電時のバッテリー動作時間 約6時間
消費電力 最大20W
保護クラス IP54
メジャリングボックスのサンプルステージ
XYステージ 固定式 最大サンプル重量 10kg
測定室内寸法 150×330mm 最大サンプル高さ 40mm
寸法・重量
外寸 測定機本体 幅210×奥75×高230(mm)
メジャリングボックス 幅380×奥220×高385(mm)
収納ケース 幅630×奥485×高225(mm)
重量 測定機本体 約1.9kg
パッケージ全体 約11.5kg
※ 測定機本体、収納ケース、充電バッテリーパック、タブレットPC
環境条件
使用温度 10℃~40℃
保管温度 0℃~50℃
相対湿度 ≤ 95%(但し、結露なきこと)
評価用ユニット
コンピューター タブレットPC(Windows® OS)
ソフトウェア 標準:Fischer WinFTM® BASIC、PDM®含む
オプション:Fischer WinFTM® SUPER
準拠している規格
CE規格適合 EN 61010、EN 61326
X線規格適合 DIN ISO 3497とASTM B 568
ドイツ放射線防護法に準拠した装置

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