UV分光放射計UV100N｜紫外線照度・スペクトル測定に最適な高精度UVチェッカーの正規代理店

工業用UVチェッカー紫外線UV分光放射計UV100N（スペクトル紫外線光源測定装置）

工業・研究現場で信頼されるUVチェッカー

■UV100Nは、現在の紫外線測定市場における課題を解決するために開発された最新型の分光式UV光源測定装置
■従来の「フィルター式UVメーター」と比較して、より高精度かつ短時間で測定が可能で
■複数の波長帯（UV-A/B/C）を1台で連続測定でき、工程管理や品質保証に最適な次世代型UVチェッカーです。

✅一台で250～400nm間の紫外線強度をカバー
　　複数の受光部センサーは不要
　UV-A、UV-B、UV-Cの波長域を網羅
　紫外線の強度とスペクトル分布を同時に測定

✅ UVチェッカーの測定範囲（測定単位：ｍW/cm2）
・UVA (315-400nm) ：0.25～500 mW/cm
・UVB (280-315nm) ：0.3～200 mW/cm
・UVC (250-280nm)：0.2～300 mW/cm

✅高分解能（1nm）

　＊単位換算：1mW/cm = 1000μW/cm（1000倍）

✅スペクトルグラフ

✅受光部と表示部は2mのケーブルで連結

✅場所を選ばず、タッチパネルスクリーンで簡単操作

✅4.3インチモニタ

✅測定データはmicro SDに保存

✅Excelフォーマットで保存

✅フル充電で2.5時間の使用

✅実験室レベルの高精度測定をハンディサイズで実現

UV測定スペクトルバンド幅は、ハーフバンド幅と呼ばれる測定範囲でより正確なデータの取得が可能

仕様
UVの紫外線強度の必要性

用途
他社製品との比較

UV100Nを導入するメリット：従来のUVチェッカーとの比較

比較項目	UV分光放射計 UV100N	従来型フィルター式UVメーター
測定方式	分光方式（波長ごとに紫外線エネルギーを解析）	フィルター式（UV-A/B/Cなど特定波長を別々に測定）
測定対象	UV-A/B/C全波長帯を1台で連続測定	測定波長ごとにフィルター・センサーの交換が必要
測定精度	高精度かつ再現性に優れ、スペクトル変化も検出可能	光源や経時変化による誤差が出やすい
測定速度	高速スキャンにより短時間で正確な結果を表示	1波長ごとの手動切替で時間がかかる
操作性	グラフィカル表示と直感的な操作が可能	シンプルな数値表示のみ。視認性に乏しい
データ出力・保存	SDカード対応・PC転送・スペクトル表示可能	データ保存機能がない、または制限あり
用途対応力	製造・医療・研究・農業など多用途に対応	主に単一工程や簡易チェック用途に限定
導入メリット	波長ごとの出力を「見える化」し、工程管理や品質保証に貢献	感覚的な判断や手動補正に頼る場面が多い

UV分光放射計UV100Nの特長

UV100N1台でUV-A、UV-B、UV-C全体のエネルギ分布を数値化とスペクトル表示

✅ 小型受光部（センサー）

🔷 受光部（センサユニット）は小さく薄く（～20mm）設計

空間的に制限された状況や角度の悪い場所での測定が可能です。

🔷センサーケーブルは、長いUVストリップライトのスキャンに使用でき、ライト全体の一貫性を確保可能

🔷ハンディタイプなので、生産ラインやその場限りの抜き取り検査にも柔軟に対応できる。

🔷工場からオフィス、顧客先、展示会まで簡単に持ち運ぶことができる。

✅ スペクトルグラフ

🔷スペクトルグラフは、UV光の特性について必要な視覚的視点を提供

🔷迅速な評価と、検証やトラブルシューティングのための数値データとの関連付けを可能にする。

🔷「スペクトルグラフ」と「数値データ」の両方がマイクロSDカードに簡単に保存され、後で検索したり、Excelや他のソフトウェアを使用して統計や傾向分析を行うことが可能

✅UV波長は1ナノメートル刻みで測定

🔷UV100Nは、ハイエンドの実験装置と同様で、紫外線の波長を分離するために回折格子を採用

回折スペクトロメーター（UV100N）は、波長1nmの刻みまで測定できる。

✅従来のフィルター式UVメーターとは違う！

🔷フィルター式UVメータは、ある程度のバンド幅が存在するため、任意の波長測定には誤差が大きくなりやすい。

スペクトルUV分光放射計UV100Nの用途

硬化（キュアリング）工程におけるUV照射強度の定量管理	電気・電子部品のシーリングや接着処理時のUV出力確認
半導体・FPD・PCB製造のフォトリソグラフィー工程での紫外線強度管理	プリント基板の印刷・乾燥・実装ラインにおけるUV照射の品質管理
殺菌工程に使用されるUV照射装置のランプ強度・寿命管理	測定結果に基づくコンベア速度やランプ交換時期の可視化と最適化
科学研究での多波長UV光の正確なスペクトル測定	ウェハー加工、ポリマー硬化、UVバルブ製造などの産業用途
感光材の評価・管理（印刷・製版業界向け）	太陽電池・光電気反応材料の紫外線照射特性評価
電子写真露光や焼付装置におけるUV光量の均一性管理	光放射を活用したバイオ反応や医療用処理装置の照度測定
生産ラインにおけるUV光源製造・品質検査への応用	紅斑・色素沈着・白斑治療など皮膚医療分野での光量制御
家畜・魚類の成育促進に向けた紫外線管理	植物の徒長抑制や光合成環境の最適化
食品加工分野におけるUV殺菌効果の検証	美容・医療現場における紫外線照射治療・研究利用
学術研究機関におけるUVスペクトルの基礎・応用解析	フォトリソ工程の工程管理や紫外線の均一照射制御

紫外線アプリケーションにおける精度、高速性、インテリジェント制御の欠如における参考事例

製造業・産業用途（UV硬化、PCB、OCA、光学など）

産業 UV硬化・製造）	UV照射量の精度不足	硬化不足による接着不良や剥離が発生。製品ばらつきや再加工が必要となり、生産性が低下。
産業（UV硬化・製造）	UV出力モニタの反応速度不足	高速ラインでの過照射や検出遅れによる材料劣化や焼き付きのリスクが高まる。
パネル製造プロセス	OCA接着における不適切なUV硬化	気泡混入、接着ムラ、視認性低下など、製品の信頼性と品質に悪影響。
光学多層レンズ組立	高度なUV光源制御の欠如	精密位置合わせが不完全になり、光軸のずれや性能低下を引き起こす。
PCB製造（露光工程）	UV光エネルギーの不均一性	露光ムラが原因でエッチング後にバリや不導通が発生し、基板の歩留まりが悪化。

医療・バイオ用途

医療・バイオ分野	UV強度の均一性不足	滅菌ムラによる感染リスクや治療効果のばらつきが発生。
医療・バイオ分野	リアルタイムフィードバック機能の不在	出力変化に気づけず、紫外線治療の過照射・未照射が起こる。
コンタクトレンズ製造	UV硬化の欠如	残留接着剤や表面の波状テクスチャが生じ、装着感や視認性が損なわれる。

学術研究・高度開発用途

学術研究・開発	分光分解能不足	波長選別が難しく、光応答性評価や材料研究に支障をきたす。
学術研究・開発	データロギング・通信機能の欠如	長時間の測定や多地点モニタリングが非効率になり、再現性や分析精度が低下。

UV光源測定の大きな課題　UV光源を精度よく測るには？詳細はこちら

UV分光放射計UV100Nの仕様

スペクトラム

センサー	CMOSリニアイメージセンサー
波長範囲	250～400nm
波長データインクリメント	1nm
スペクトル帯域幅	約1nm（ハーフバンド幅）
波長再現性	±0.8nm
測定範囲	UVA1,4: 315～400nm / 0.25～500 mW/cm UVB2,4: 280～315nm / 0.3～200 mW/cm UVC*3,4: 250～280nm / 0.2～300 mW/cm
精度	±5%（10～500 mW/cm） ±10%（0.2～10 mW/cm）
迷光	-25dB最大*5 Stray light（ストレイライト）は、日本語で「迷光」光学機器の鏡筒内部などで発生する不必要な光の散乱
積分時間範囲	1ms～2,000ms
デジタル解像度	16ビット

仕様

キャプチャ機能	ワンタイム / 連続
動作モード	スタンドアローン
積分モード	自動 / 手動
ダークキャリブレーション	自動
測定モード	1. 基本モード 2. スペクトルモード 3. ロギングモード 4. ブラウザーモード 5. オプションモード
測定機能	1. スペクトル放射照度 (mW/m, mW/cm) 2. ジュール (mJ/cm) 3. ピーク波長 (λp) 4. ピーク波長値 (λpV) 5. 積分時間 (I-Time) 6. UVAピーク波長 (λa-p) 7. UVAピーク波長値 (λa-v) 8. UVBピーク波長 (λb-p) 9. UVBピーク波長値 (λb-v) 10. UVCピーク波長 (λc-p) 11. UVCピーク波長値 (λc-v)
ディスプレイ	4.3インチ 800x480静電容量タッチLCD
最大ファイル数	約68,000ファイル @ 8GB SDカード (Excel形式)
バッテリー稼働時間	最大3時間（フル充電時）
電源アダプター	3200mAh（3.7V リチウムイオン充電池）
データ出力インターフェース	MicroSDカード（SD2.0、SDHC / 最大32GBまで対応）
データ形式	Excel互換
動作温度 / 湿度	5～35℃、相対湿度70%以下（結露しないこと）
保管温度 / 湿度	-10～40℃、相対湿度70%以下（結露しないこと）

UV-100Nは現在、世界で最もパワフルなUVスペクトロメーター

ブランド		UPRtek	OPTIMUM	OPTIMUM	GL Optic	ウシオ電機
モデル		UV-100N	分光放射照度計 SRI-2000-UVC	紫外分光放射照度計SRI-4000-UVC	分光放射照度計 GL Specis5.0 Touch	紫外線積算光量計 UIT-250
波長範囲		250-430nm	200-780nm	200-430nm	200-1050nm モデルによる	受光部交換で3波長域測定254/365/405nm 複数プローブが必要
修正履歴の追跡		〇	X	X	X	X
測定範囲		UVA 0.25-500 mW/cm2 UVB 0.3-200mW/cm2 UVC 0.2～300 mW/cm2	0.5-2500mW/cm2	0.2-1000mW/cm2	5-150000lx	0-1000mw/cm2
ダークモード		オート	マニュアル	マニュアル	マニュアル	マニュアル
波長再現性		0.8nm	0.5ｎm	0.5mm	0.5mm	卓上型USR-45：2nm
スペクトル幅		1nm	6nm	3nm	2.5nm	卓上型USR-45：2nm
センサーヘッドの高さ		20mm	32mm	32mm	未表示(目測15mm)	19mm
APPとの接続		x	x	x	x	x
機能	ロギング・モード	〇	X	X	X	〇最長時間：4分
PCソフトウェア	ダウンロードサービス	X	〇	〇	〇	X
PCソフトウェア	レポートのエクスポート	X	〇	〇	〇	〇