ケツトkett デュアルタイプ膜厚計LZ-200Jは販売終了しました

ケツト科学研究所kett デュアルタイプ膜厚計LZ-200J

この製品は販売終了いたしました。

ケツトデュアルタイプ膜厚計LZ-200J

電磁式と渦電流式の両機能を備え、しかもプリンタを内蔵したポータブルタイプの膜厚計です。

校正書類の発行可(有償)

磁性金属上および非磁性金属上のさまざまな被膜厚測定にすばやく対応します。

ボタンひとつで平均値・標準偏差・最大値・最小値が求められる統計計算機能、キャリブレーション・メモリ機能、リミット設定機能などを装備しています。

＊弊社は正規ルートです。安心のアフターサービス

ケツトkett 膜厚計LZ-200Jの特長

LZ-200Jは、磁性金属上に施された被膜厚を測定する電磁膜厚計と磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する渦電流膜厚計の両者を測定することができるデュアルタイプ膜厚

ボタン操作ひとつで平均値・標準偏差・最大値・最小値が求められる統計計算機能、素地の違いによる誤差をなくすキャリブレーション・メモリ機能、膜厚の管理範囲を指定するリミット設定機能などを装備しています。

測定結果は内蔵プリンタでプリントアウトできます。

●プリンタ内蔵の膜厚計

日付け、ロット番号、測定結果をその場でプリントアウトし、資料として提出することが可能です。

●膜厚管理に必要な統計計算機能

測定結果の平均値、標準偏差、最大値、最小値などを簡単な操作で求めることができます。

●キャリブレーション・メモリ機能

素地の材質、形状、厚みの変化に対応するため、その素地に最適な検量線を電磁方式4種、渦電流方式4種をあらかじめ登録し呼び出すことが可能です。

●リミット設定機能

管理対象膜厚の上限値、下限値を設定しておくことができます。

設定範囲外の膜厚を測定した場合、ブザーで警告し表示部に警告マークを表示します。

●小型プローブ

ペンシルタイプの一点接触定圧方式プローブで、測定場所を選ばず安定した測定値が得られます。

●耐摩耗性に優れたプローブチップ

測定プローブの先端チップに電磁方式はチタンコーティングを、渦電流方式には工業用ルビーを採用しています。

●測定原理電磁誘導式（LZ-200JのFeプローブ）

交流電磁石を鉄（磁性金属）に接近させると、接近距離によって、コイルを貫く磁束数が変化し、そのためコイル両端にかかる電圧が変化します。

この電圧変化を電流値から読み取り、膜厚に換算したのが電磁式膜厚計で、磁性金属上の非磁性被膜の測定用です。

ケツトkett 膜厚計LZ-200Jの仕様

測定方式	電磁誘導式/渦電流式兼用
測定対象	磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲	電磁式：0～1500μm 渦電流式：0～800μm
測定精度	電磁式：15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％渦電流式：50μm未満：±1μm、50μm以上：±2％
分解能	100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm
適合規格	電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統計機能	測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号
プローブ	一点接触定圧式（LEP-J、LHP-J）
表示方法	デジタル（LCD、表示最小桁0.1μm）
外部出力	RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps）
電源	AC100V（50/60Hz）または電池1.5V（単3アルカリ）本体部×6、プリンタ部×4
寸法・質量	120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg
付属品	標準板、鉄素地、アルミ素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション	L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」